軍用電子元器件篩選(一次篩選、二次篩選)

電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時(shí)發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效手段。

電子元器件篩選是通過(guò)一系列短期環(huán)境應(yīng)力加速試驗(yàn)及測(cè)試技術(shù)，對(duì)整批電子元器件進(jìn)行全批次非破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提高產(chǎn)品使用可靠性。

元器件篩選的目的：

剔除早起失效產(chǎn)品。

提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點(diǎn)：

篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。

不改變?cè)骷逃惺C(jī)理和固有可靠性。

對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選。

篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。

元器件篩選測(cè)試項(xiàng)目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線(xiàn)?破壞檢查、X射線(xiàn)?破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性?蹤檢漏、濕度試驗(yàn)。

3.環(huán)境應(yīng)力篩選：振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應(yīng)力。

元器件篩選覆蓋范圍：

電子元件：又叫被動(dòng)元件，顧名思義，沒(méi)有源，只是對(duì)外界信號(hào)的響應(yīng)，電阻、電容、電感、磁環(huán)、變壓器、熔斷器、晶振、陶振，接插件，線(xiàn)纜等等;

電子器件：又叫有源器件，即內(nèi)部實(shí)際上是有一個(gè)“電源”，使用中要加一個(gè)外界電源和一個(gè)外界信號(hào)，可起到對(duì)信號(hào)放大，處理等功能;包括分立器件，集成電路，機(jī)電類(lèi)器件。

分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件，二/三極管，晶體管，光電二極管，發(fā)光二極管，激光二極管……

集成電路：簡(jiǎn)單理解由兩個(gè)以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路，數(shù)字集成電路，數(shù)?；旌霞呻娐罚?br />
模擬集成電路：運(yùn)算放大器，模擬乘法器，電源基準(zhǔn)，放大器，濾波器，反饋電路，光耦，晶體等。

數(shù)字集成電路：處理器，單片機(jī)，比較器，TTL，存儲(chǔ)器，F(xiàn)PGA，DSP等。

數(shù)?；旌霞呻娐罚篈D/DA等

機(jī)電類(lèi)器件：繼電器，MEMS等

依據(jù)各行業(yè)及領(lǐng)域客戶(hù)的需求，廣電計(jì)量精心打造出涵蓋計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、電磁兼容檢測(cè)、化學(xué)分析、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測(cè)、環(huán)保檢測(cè)、產(chǎn)品認(rèn)證、技術(shù)咨詢(xún)與培訓(xùn)、質(zhì)檢行業(yè)信息化系統(tǒng)開(kāi)發(fā)、測(cè)控產(chǎn)品研發(fā)的一站式計(jì)量檢測(cè)技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過(guò)程。

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、

電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng)、

*立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、

繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、

二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測(cè)試需要的設(shè)備：

阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測(cè)試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、

高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測(cè)能力覆蓋：

外觀檢測(cè)、內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)、密封性測(cè)試、內(nèi)部缺陷測(cè)試。

覆蓋標(biāo)準(zhǔn)：

GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

GJB 360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法

GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序

GJB 7243-2011軍用電子元器件篩選技術(shù)要求

GJB 40247A-2006軍用電子元器件破壞性物理分析方法

QJ 10003—2008進(jìn)口元器件篩選指南

MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

MIL-STD-883G

廣電計(jì)量從1964年開(kāi)始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù)沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成為一家全國(guó)性、綜合化、軍民融合的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專(zhuān)業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn)、產(chǎn)品檢測(cè)及認(rèn)證、分析評(píng)價(jià)、咨詢(xún)培訓(xùn)、檢測(cè)裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

元器件篩選業(yè)務(wù)聯(lián)系：張經(jīng)理：186-2090+8348;

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