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芯片ESD/EOS測試
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  • 發(fā)布時間:2021-06-12 10:09

產(chǎn)地:廣東 | 歸屬行業(yè):商務(wù)服務(wù)網(wǎng)

有效期至:長期有效

聯(lián)系人: 張海鵬

手機(jī):18620908348

聯(lián)系地址:廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號

公司網(wǎng)址: http://aqinlovely.b2b.bq.cm/

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  • 聯(lián)系方式
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  • 供貨總量:
  • 發(fā)貨期限:自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
  • 所在地:廣東

 EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷,IC過電壓承受能力較低,產(chǎn)品就有損壞風(fēng)險。
對成品廠商而言,除了要求IC供貨商測試到所要求的ESD防護(hù)等級,對于所選用的IC,其承受EOS的能力也更加關(guān)注。
GRGT技術(shù)服務(wù)
廣電計量(GRGT)能協(xié)助您進(jìn)行測試,提供Test to Fail的驗證與失效模式報告。藉此了解芯片組件脆弱點與靜電承受度,作為您后續(xù)系統(tǒng)設(shè)計、芯片電路設(shè)計調(diào)整、甚至后續(xù)RMA失效分析的依據(jù)。
1.人體放電模式(Human Body Mode)測試;
2.機(jī)器放電模式(Machine Mode)測試;
3.組件充/放電模式(Charged Device Mode)測試;
4.制具式組件充/放電模式(Socket-Charge Device Mode)測試;
5.閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測試;
6.靜電放電閂鎖測式(Transient-Induced Latch up);
7.系統(tǒng)級靜電放電模式(System ESD Test–ESD GUN TEST);
8.測試ESD I-V Curve量測;
9.過度電性應(yīng)力EOS(Electrical Overstress)測試;
GRGT服務(wù)優(yōu)勢
l豐富的ESD測試經(jīng)驗:提供有效的測試方案,讓您能輕易找出產(chǎn)品問題點.
l快速交期:三班制24小時運(yùn)作.
l測試結(jié)果準(zhǔn)確度:靜電測試設(shè)備搭配自主建立之設(shè)備維修保養(yǎng)機(jī)制定期定檢保障設(shè)備輸出,將可協(xié)助客戶取得高精準(zhǔn)度之測試結(jié)果,降低設(shè)備不正常輸出造成的測試結(jié)果差異。
公司簡介:
廣州廣電計量檢測股份有限公司(GRGT)是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機(jī)構(gòu),專注于為客戶提供計量、檢測、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù),在計量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規(guī)元器件認(rèn)證測試、電磁兼容檢測等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。
GRGT目前具有以下芯片相關(guān)測試能力及技術(shù)服務(wù)能力:
芯片可靠性驗證(RA):
芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113;
高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103;
溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104;
溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101;
高加速應(yīng)力試驗(HTSL/HAST),JESD22-A110;
高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108;
芯片靜電測試(ESD):
人體放電模式測試(HBM),JS001;
元器件充放電模式測試(CDM),JS002;
閂鎖測試(LU),JESD78;
TLP;Surge/EOS/EFT;
芯片IC失效分析(FA):
光學(xué)檢查(VI/OM);
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs);
OBIRCH;Micro-probe;
聚焦離子束微觀分析(FIB);
彈坑試驗(cratering);芯片開封(decap);
芯片去層(delayer);晶格缺陷試驗(化學(xué)法);
PN結(jié)染色/碼染色試驗;
推拉力測試(WBP/WBS);紅墨水試驗:
PCBA切片分析(X-section);
芯片材料分析:
高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF);
SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD);
Raman(Raman光譜);AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量);
廣州廣電計量檢測股份有限公司(GRGT)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機(jī)構(gòu)。廣電計量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平,其中CNAS認(rèn)可3408項,CMA認(rèn)可1990項,CATL認(rèn)可覆蓋55個類別;在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中,廣電計量還獲眾多榮譽(yù)稱號。
廣電計量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識俱佳的服務(wù)隊伍,現(xiàn)有員工4000多人,其中包括各領(lǐng)域?qū)<液图夹g(shù)帶頭人50多人,博士后、博士30人,碩士380多人。
廣電計量建有技術(shù)研究院,在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領(lǐng)域,先后主持編寫30多項*和地方計量測試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程,承擔(dān)50多項國家、省部級等重點科研項目,累計獲得專利*247項,另獲得軟件著作權(quán)119項,積極推動了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
業(yè)務(wù)聯(lián)系:張經(jīng)理:186-2090+8348;
郵箱:zhanghp grgtest.com



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張海鵬
18620908348

 
免責(zé)聲明:
以上所展示的芯片ESD/EOS測試供應(yīng)信息由廣州廣電計量檢測股份有限公司自行提供,芯片ESD/EOS測試信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)廣州廣電計量檢測股份有限公司負(fù)責(zé),本網(wǎng)站不承擔(dān)任何責(zé)任。本網(wǎng)站不涉及用戶間因交易而產(chǎn)生的法律關(guān)系及法律糾紛,糾紛由您自行協(xié)商解決。