AEC-Q104
AEC-Q104對多芯片模塊的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。
需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q104的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。
如果成功完成根據(jù)本文件各要點需要的測試結(jié)果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q104認證。供應商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認為零件通過了AEC Q104認證。
若模塊中的所有器件（被動元器件、分立器件、芯片等）都以單獨完成了AECQ認證，那么只需對模塊進行AECQ104標準中H組測試項目，合格后即能申明模塊整體通過AECQ104認證。
Tier 1:OEM車用模塊/系統(tǒng)廠,車用電子組件的End-User.
Tier 2:使用/制造車用電子組件的廠商,車用電子組件的Supplier.
Tier 3:提供支持與服務給予電子行業(yè),車用電子的外包商.
廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。
AECQ104認證測試周期：
3-4個月，提供全面的認證計劃、測試、報告等服務。
AECQ100認證測試地點：
廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。
AEC-Q104認證測試業(yè)務咨詢：
GRGT張工186-2090-8348；
zhanghp grgtest.com
試驗后元器件失效分析項目：
①形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
②成分檢測技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。
③電分析技術(shù)：I-V曲線、半導體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
④開封制樣技術(shù)：化學開封、機械開封、等離子刻蝕、反應離子刻蝕、化學腐蝕、切片。
⑤缺陷定位技術(shù)：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。