AEC-Q104
AEC-Q104對(duì)多芯片模塊的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn)，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級(jí)選擇測(cè)試條件。
需要注意的是，第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q104的驗(yàn)證，需要晶圓供應(yīng)商、封測(cè)廠配合完成，這更加考驗(yàn)對(duì)認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶(hù)的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)客戶(hù)的IC進(jìn)行評(píng)估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。
如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱(chēng)他們的零件通過(guò)了AEC Q104認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶(hù)協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AEC Q104認(rèn)證。
若模塊中的所有器件（被動(dòng)元器件、分立器件、芯片等）都以單獨(dú)完成了AECQ認(rèn)證，那么只需對(duì)模塊進(jìn)行AECQ104標(biāo)準(zhǔn)中H組測(cè)試項(xiàng)目，合格后即能申明模塊整體通過(guò)AECQ104認(rèn)證。
Tier 1:OEM車(chē)用模塊/系統(tǒng)廠,車(chē)用電子組件的End-User.
Tier 2:使用/制造車(chē)用電子組件的廠商,車(chē)用電子組件的Supplier.
Tier 3:提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè),車(chē)用電子的外包商.
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專(zhuān)業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。
AECQ104認(rèn)證測(cè)試周期：
3-4個(gè)月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試、報(bào)告等服務(wù)。
AECQ100認(rèn)證測(cè)試地點(diǎn)：
廣電計(jì)量廣州總部、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。
AEC-Q104認(rèn)證測(cè)試業(yè)務(wù)咨詢(xún)：
GRGT張工186-2090-8348；
zhanghp grgtest.com
試驗(yàn)后元器件失效分析項(xiàng)目：
①形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
②成分檢測(cè)技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。
③電分析技術(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
④開(kāi)封制樣技術(shù)：化學(xué)開(kāi)封、機(jī)械開(kāi)封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。
⑤缺陷定位技術(shù)：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。